项目

技术参数

重量

1.5kg

尺寸

30cm（L） x10cm（W） x 28cm（H）

检测器

XFlash®硅漂移检测器（SDD）,检测速度快；分辨率高：145eV,计数率：100Kcps

激发源

X射线管，Ag靶，电压40kV

滤波器

手动滤波器

工作条件

温度范围：-20℃～+55℃；湿度范围：0～95%

操作系统

HP掌上电脑：Windows Mobile5.0；Bruker专用软件

电源

可交、直流供电；2节可充电锂电池，可连续工作8-12小时

测量模式

PXRF软件；经验校准法

安全

密码保护，无样品时不产生射线

显示器

240x320彩显; 65,536像素; 背景光可调; 触摸屏

标准合金库

低合金钢，工具钢，不锈钢，铜合金，黄铜，青铜，FP校准（包括贵金属）

数据存储

主机：512MB

存储卡：CF/SD/MSD卡，2GB，能存储几百万个牌号和测量数据

数据传输

USB、蓝牙、无线局域网

冷却系统

Peltier半导体冷却器，机身环型散热器

电池充电器

交流充电器：110/220V，50/60Hz